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インライン全数検査

・BGAやCSPはもちろん、リード部品やチップ部品の自動検査にも対応
・各種部品に対応したはんだ検査の実施が可能で、検査効率が大幅に向上

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高速タクト

・両面実装基板(330×250mm)全面の自動検査を最短約75秒で実現
・高感度センサ、内部シャッター、高剛性ガントリー構造の採用により、安定した検査品質を確保

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解析機能

・試作・評価時における目視確認にも最適

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