X-RAY INSPECTOR X線検査装置



自動検査機能


各種の検査項目により、BGA/CSPのブリッジや欠落の検出はもちろんのこと、はんだのオープン(未接合)を高精度に検出します。
また、当社独自のボイド検出方式(特許第4039565号)により、最少30μmのボイドも検出できます。あらかじめ視野位置、良否判定値を登録しておくことで自動検査を行うことができます。

検査項目(BGA、CSP等のバンプ検査)

中心厚み/平均厚み/厚み変動率/面積/体積/ボイド/異物/欠落/ブリッジ/真円度/断面積比/位置ズレ/回転ズレ

更に、お客様のご要望に沿った検査に対応します。
詳しくは営業担当にお問合わせください。


解析機能


鮮明な透過画像を用いて、
各種解析機能により多様な観察が可能です。

透過画像解析

寸法測定/ワイヤー流れ率測定/1D・2Dプロファイル等

厚み測定機能

検査対象物と同じ組成の基準試料と相対比較することにより、輝度値を厚み情報に変換して出力します。

はんだ検査項目

中心厚み/平均厚み/厚み変動率/面積/体積/ボイド/異物/欠落/ブリッジ/真円度/断面積比/位置ズレ/回転ズレ


データ管理システム(オプション)


自動検査結果をサーバーで管理し、前工程への品質情報のフィードバック等、一連の追跡調査が可能です。

QRコードやバーコードなどのID情報読み取り/サーバー一元管理/目視確認ツール

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